一種芯片失效模式的確定方法、終端,所述方法包括:獲取芯片在多個測試電壓下的失效比特;對所獲取到的失效比特進行失效模式運算,獲得至少一個失效比特組以及每一個失效比特組的失效模式,其中,所述失效比特組包括至少一個測試電壓下的失效比特;基于所述失效比特組的失效模式,確定所述失效比特組中失效比特的失效模式。通過本發明方案能夠提高芯片失效分析的準確度。
聲明:
“芯片失效模式的確定方法、終端” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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