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芯片失效模式的確定方法、終端

1126   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:59:35
一種芯片失效模式的確定方法、終端,所述方法包括:獲取芯片在多個測試電壓下的失效比特;對所獲取到的失效比特進行失效模式運算,獲得至少一個失效比特組以及每一個失效比特組的失效模式,其中,所述失效比特組包括至少一個測試電壓下的失效比特;基于所述失效比特組的失效模式,確定所述失效比特組中失效比特的失效模式。通過本發明方案能夠提高芯片失效分析的準確度。
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