本發明提供了一種可視化的存儲器芯片修補分析程式檢驗方法和裝置,所述方法包括:根據顯示區域的參數顯示存儲器芯片包含的多個存儲子模塊的圖形化結構,存儲子模塊包括多個陣列排列的存儲單元;選取預設位置的存儲單元為模擬失效存儲單元,并記錄模擬失效存儲單元的位置;顯示用于覆蓋所述模擬失效存儲單元的位置的失效單元顯示標識;輸入模擬失效存儲單元的位置至修補分析程式中,得到修補方案,以獲取修補存儲單元的位置;顯示用于覆蓋所述修補存儲單元的位置的修補單元顯示標識;根據修補單元顯示標識對失效單元顯示標識的覆蓋情況,生成分析報告。直觀形象的展示了檢驗修補分析程式的整個過程以及檢驗結果,方便快捷且節省時間。
聲明:
“可視化的存儲器芯片修補分析程式檢驗方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)