本發明提供了一種軟失效測試系統、方法和電子設備,涉及芯片測試的技術領域,包括上位機、測試驅動器、待測電路板和輻射源;其中,待測電路板上設置有待測芯片;上位機接收用戶的測試指令,并將其發送至測試驅動器;測試驅動器基于測試指令發送預設電壓調整指令和預設數據讀寫指令至待測電路板,以對待測芯片進行預設電壓下的預設數據讀寫測試;測試驅動器還基于預設數據讀寫測試的測試結果統計待測芯片的軟失效率,并將其反饋至上位機?;谠撥浭y試系統,用戶通過上位機控制測試驅動器即可對待測芯片的軟失效測試條件進行調控,無需技術人員進入輻射室內進行調整,避免了等待輻射強度下降的時間,進而有效地提升了軟失效測試的測試效率。
聲明:
“軟失效測試系統、方法和電子設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)