本發明公開了一種基于SOC?ATE定位存儲器失效位的方法及測試系統,包括:生成測試向量;將測試向量轉化成物理波形信號;將物理波形信號輸入至待測芯片中進行測試;將測試得到的結果(引腳pass?fail信息)以字符形式按行存儲至RAM中;ATE從RAM中讀取各失效向量所指的失效位的數據引腳狀態和相對應的地址引腳狀態;構造以字符表示的引腳狀態與以數值表示的引腳狀態的對應關系;將各失效位的地址引腳狀態和數據引腳狀態由字符形式轉換為數值形式輸出。本發明在不增加硬件資源的基礎上將基于SOC?ATE的向量模式測試得到的字符數據快速轉換為數值數據,方便地對存儲器進行失效定位和失效分析,提高利用SOC?ATE開發存儲器測試程序的效率。
聲明:
“基于SOC ATE定位存儲器失效位的方法及測試系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)