本發明提供了一種用于LED失效檢測的研磨件,包括主體;主體具有在豎直方向上相正對設置的研磨面和觀察面;在研磨面上設置有若干個凸起,凸起為棱錐結構或三棱柱結構;在凸起為棱錐結構時,每一個凸起的底面位于上方,每一個凸起的尖端朝向下方且每一個凸起的尖端上設置有研磨粒,每一個凸起的側面為傾斜面;在凸起為三棱柱結構時,每一個凸起的其中一個側面位于上方,每一個凸起的其余側面為傾斜面,每一個凸起的其中一條棱朝向下方且每一條位于最下方的棱上設置有研磨粒;每一個傾斜面至觀察面之間至少存在一條沿豎向布置的透光通道,透光通道中充滿折射介質。該研磨件可供外部的設備在研磨件使用時對研磨面下的LED芯片表面進行實時觀察,具有良好的實用性。
聲明:
“用于LED失效檢測的研磨件” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)