本申請公開了一種壓力接觸式導電觸片的失效連接檢測方法、裝置及計算機可讀存儲介質。其中,方法包括從待測導電觸片和與之正常連接硬件設備的整體幾何模型中提取幾何參數數據。將幾何參數數據輸入至有限元模型中,并對有限元模型進行網格劃分同時賦予材料參數和屬性參數,生成仿真環境測試模型;根據工況模擬參數指令自動設置仿真環境測試模型的材料失效參數、各部件間的連接關系參數、各部件間的接觸關系參數、連接失效參數、待計算參數信息、當前工況環境下仿真測試模式所受運動自由度約束和激勵載荷信息;最后計算得到作為評估當前工況環境下是否發生失效連接依據的待計算參數值,從而可有效提高研發效率,降低研發成本,縮短研發周期。
聲明:
“壓力接觸式導電觸片的失效連接檢測方法、裝置及介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)