本發明公開了一種基于電致發光計算太陽電池片局部IV性能的方法,通過在標準晶體硅太陽電池片電池上施加兩組不同的外加偏壓,得到相應的電致發光圖像,然后計算得到校準系數,局部光生電流,局部串、并聯電阻以及局部理想因子,最后根據單二極管等效電路模型,得到電池片局部IV曲線。本發明通過利用電致發光測試方法可以快速的計算出電池片的五個局部性能參數得到局部IV曲線,可以在對電池片的無損害的情況下,能夠判斷電池片產生光生載流子的能力,判斷電池片局部IV性能,提高電池的可靠性。
聲明:
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