本發明公開了一種使用高光譜表型性狀來鑒定玉米抗旱基因的方法,包括:干旱脅迫條件與正常條件下玉米植株生長狀況的圖像采集與圖像處理,獲取高光譜表型性狀;高光譜表型性狀降維處理;高光譜表型性狀的遺傳力分析;高光譜表型性狀的全基因組關聯分析,篩選抗旱相關的候選基因;高光譜表型性狀關聯的候選基因抗旱功能驗證。在現有的技術中,玉米抗旱相關的生理生化指標測定方法多為有損測量,抗旱基因鑒定多采用基因克隆和轉基因技術等生物技術。該方法基于圖像信息,可實現玉米植株水平上相關指標的無損與精確測量,除此之外,該方法結合光譜技術與圖像處理技術,驗證這些技術在玉米抗旱基因鑒定方面的可行性,可為玉米抗旱基因鑒定工作提供新思路與新方法。
聲明:
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