本發明涉及一種基于飛秒激光調制相位的單粒子快速識別裝置及方法,目的在于克服傳統光學成像無法識別單個金屬納米粒子的限制,利用飛秒激光激發并調制金屬納米粒子的多光子熒光過程,通過對比飛秒激光自干涉相位與金屬納米粒子的多光子熒光調制相位,實現單個金屬納米粒子的識別。本發明由飛秒激光雙光束制備系統、激光自干涉光強探測系統、多光子熒光激發與收集系統、數據提取與處理系統四個部分組成;相比于傳統暗場成像與熒光成像,不需要突破衍射極限,就可以識別單個金屬納米粒子。相比于掃描電子顯微鏡與原子力顯微鏡等表征方法,不需要特別制備樣品,不需要在真空條件下測量,可以實現原位無損探測,探測后的樣品可以繼續開展其他測量或者應用。
聲明:
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