本實用新型公開了一種基于反射式太赫茲光譜第一鏡表面雜質分析裝置,包括:計算機控制系統、波長可調太赫茲波發射模塊、太赫茲波接收模塊、三維掃描系統、磁約束聚變裝置、若干拋面鏡。本實用新型利用太赫茲波及光學過程層析成像技術,可以實現無損、原位、在線分析磁約束聚變裝置第一鏡表面雜質沉積層的成分及結構信息,對監測雜質灰塵分布情況,氘氚燃料滯留等熱點問題有著不可比擬的優勢。依據本實用新型可以開發出用于監測磁約束聚變裝置內第一鏡、第一壁表面沉積放電產生的雜質,及滯留的氘氚燃料,在安全檢測領域必定有著廣闊的應用前景。
聲明:
“基于反射式太赫茲光譜第一鏡表面雜質分析裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)