本發明公開了一種陶瓷基復合材料分層缺陷標樣的制備方法,用于解決現有方法制備缺陷標樣易變形和尺寸控制難的技術問題。技術方案是通過制作帶有聚四氟乙烯缺陷的碳纖維預制體,在帶有聚四氟乙烯缺陷的碳纖維預制體上化學氣相沉積法(CVD)沉積熱解碳、CVI浸滲碳化硅基體,制備出陶瓷基復合材料分層缺陷標樣。使用該方法制備分層缺陷標樣過程不會產生應力使預置缺陷變形屈曲,預置缺陷分解不會導致分層缺陷粘連,而且該方法制備的分層缺陷容易通過無損檢測來識別,可評價檢測設備對分層缺陷的適用性、靈敏度和精度,缺陷形狀尺寸與所設計的缺陷完全吻合,不會發生邊緣翹曲的問題。
聲明:
“陶瓷基復合材料分層缺陷標樣的制備方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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