本發明涉及光學診斷領域,公開了一種原位分析聚變裝置第一鏡表面雜質的方法,首先測量并記錄原始第一鏡的太赫茲時域波譜,然后測量磁約束聚變裝置運行一段時間后載有雜質灰塵的第一鏡表面反射太赫茲時域波譜;將兩者在有效頻域內分別進行傅里葉變換,并進一步得到聚變裝置運行過后沉積在第一鏡表面灰塵雜質層的相對反射率譜,將其與計算機數據庫中所有物質的太赫茲吸收峰相比較;如果數據庫中某種物質的特征吸收峰重合,就證明第一境表面雜質灰塵中含有該物質。本發明是一種無損檢測方法,可以有效地檢測沉積雜質的物理化學信息;由于太赫茲波在聚等離子體及真空腔室內傳播過程損耗極小,可以實現遠距離原位在線診斷,信噪比較高,穩定性好;依據本發明,可以開發出小型,高效,直觀的第一鏡表面檢測設備。
聲明:
“原位分析聚變裝置第一鏡表面雜質的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)