本發明提供一種基于微波致熱的缺陷深度信息提取方法,屬于紅外無損檢測技術領域。該方法通過對材料進行微波加熱,在恒定輸出功率下,材料達到了溫度平衡后,對材料進行紅外溫度檢測;然后通過已知的材料電磁參數、輸出功率,結合電磁波的多層反射理論,完成對缺陷深度信息的提取。本方法對缺陷深度信息檢測更為精確,同時具有檢測方式簡便。
聲明:
“基于微波致熱的缺陷深度信息提取方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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