本發明公開了一種基于電容成像提離曲線的金屬表面輪廓深度反演方法,涉及無損檢測信號處理領域,包括:獲取電容成像探頭在被測金屬試件上沿提離方向掃描數據并選取擬合范圍進行方程擬合;基于所述擬合后的方程構建提離和檢測值一一對應數據庫;獲取沿檢測方向檢測值數據并基于所述構建的數據庫進行一一匹配求解對應的提離序列;找尋最小提離值并對所述一一匹配求解的提離序列求差值得到被測金屬試件輪廓深度反演結果。本方法利用電容成像在金屬材料上提離曲線單調性,建立提離與檢測值一一對應數據庫,結合電容成像探頭在被測金屬試件上沿提離和檢測兩個方向的數據,以實現利用電容成像無損檢測技術提離曲線解決金屬被測件輪廓深度信息的反演。
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