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高反射物體表面三維測量方法和系統

1084   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:58:39
本發明涉及一種高反射物體表面三維測量方法,包括下列步驟:1)借助于雙投影儀和相機獲取物點坐標和法線信息:使用雙投影儀分時向白色平板投射編碼相移條紋,由相機獲取經被測物體表面反射的白色平板上的相移條紋;借助于白色平板位置改變,獲取入射光線所在的入射光平面;使用雙投影儀獲得的兩個入射光平面,并由入射光平面求交獲得入射光線信息;使用反射光線和入射光平面求交或反射光線和入射光線求交計算物點坐標信息;使用反射光線和入射光線獲取物點法線信息;2)采用徑向基插值法或梯度積分法對獲取的物點坐標和法線信息進行插值或梯度積分,獲取物點的精確三維信息。本發明測量速度快,非接觸,對高反射物體表面無損傷。
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