本發明涉及等離子體技術領域,具體地涉及等離子體溫度分布測量系統。該系統包括:等離子體發生模塊,包括正電極及負電極、絕緣阻擋介質,所述正電極和所述負電極相對布置,所述正電極和所述負電極之間間隔有所述絕緣阻擋介質,所述絕緣阻擋介質形成為一側具有開口的腔體,所述腔體的其他側面中的至少一側面用透紅外封堵材料封堵;以及紅外測量模塊,布置于與所述腔體的用所述透紅外封堵材料封堵的一側面間隔預定距離的位置,用于測量所述腔體中產生的等離子體的紅外分布,從而測量所述等離子體的溫度分布。該等離子體溫度分布測量系統能夠通過測量等離子的紅外分布而測量等離子的溫度分布,從而能夠實現無損且準確的溫度分布測量。
聲明:
“等離子體溫度分布測量系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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