公開了一種揚聲器T/S參數測試裝置,通過設置具有容置空腔的密封測試裝置,將揚聲器單體放置于容置空腔內,揚聲器單體與測試裝置的容置空腔分別形成背腔和前腔,分別測試密封前揚聲器單體的電聲參數組和密封后揚聲器單體的阻抗曲線,提取電聲參數組和密封后揚聲器的阻抗曲線的特征參數并根據聲學系統設備的標準公式計算獲取揚聲器單體的T/S參數。本申請的揚聲器T/S參數測試裝置可以實現在揚聲器單體無損情況下,快速對揚聲器單體進行在線測試獲取T/S參數,縮短了測試時間,提高了效率。
聲明:
“揚聲器T/S參數測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)