本發明公開了一種半導體三極管生產用測試裝置,涉及半導體技術領域,包括主體機構、壓力測試機構、低溫測試機構以及高溫測試機構。在壓力測試機構中,電缸通過其活塞桿的移動,驅動壓板向下壓動,且壓于三極管,可以測試封裝后的三極管的抗壓力性能;同時,在凸輪的運動下,能夠驅動第一振動板上下運動,第一振動板的上下運動帶動第一彈簧進行振動,第一彈簧振動下帶動第二振動板振動,從而可以模擬封裝后的三極管在不斷振動的條件下,內部器件有無損壞;通過高溫測試機構,可以測試三極管在高溫狀態下的耐受力;通過低溫測試機構,可以測試三極管在低溫狀態下的耐受力。
聲明:
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