基于時間相關單光子計數技術的半透明材料輻射物性測量方法,涉及材料物性測量技術領域。它是為了解決傳統輻射物性參數的測量物件測量過程中存在信噪比低、動態范圍小的問題。本發明可以同時測量多個輻射物性,穩定性同比提高了20%,可用于航空航天、生物醫療、燃燒診斷、光學探測及無損探傷等工程領域。時間相關單光子計數技術是一種具有高時間分辨率可用于極微弱光信號探測的技術,單光子計數器具有受探測器不穩定因素的影響小、信噪比高、動態范圍寬、設備便宜以及可以輸出數字信號便于數據處理等優點。本發明適用于材料物性測量技術領域。
聲明:
“基于時間相關單光子計數技術的半透明材料輻射物性測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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