一種激光衍射測量周期極化晶體參數的方法。本發明的測量過程是:將待測樣品放置于樣品臺上,令激光器光線沿與樣品表面法線方向同向入射樣品表面,其透射光和衍射光照射到樣品后面與樣品表面平行的屏幕上,使屏幕上產生透射和衍射光斑;測量出樣品厚度,各級衍射光斑的衍射光強Im和激光入射到樣品上的光強Im、透過光光強I0及衍射激光與入射方向之間的夾角φm,通過公式(1)、(2)、(3)進行計算,可以分別得到關于樣品的參數:占空比W、折射率調制Δn和周期極化晶體的周期A。本發明具有簡單易測,對樣品無損傷的優點。同時本發明是基于對一個區域的平均測量,可以平行移動晶體,觀察晶體不同位置的衍射光的變化情況,作為樣品極化質量的一個重要參數。
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我是此專利(論文)的發明人(作者)