本發明公開了一種垂直鋪塑鋪膜深度的探測方法,在垂直鋪塑工程施工完畢后,利用電阻變化無損探測其鋪膜深度,具體為:首先在垂直鋪塑的防滲體表面選擇一個探測位置,在鋪膜兩側對稱布置測點,對稱的兩個測點為一組,其連線垂直于鋪膜;其次運用電阻測量儀測量所布置的每組測點之間的電阻值;再次找出所測電阻值中的最小值,其對應的測點間距的二分之一即為該探測位置的鋪膜深度;最后沿鋪膜方向按一定間距改變探測位置,重復以上步驟,即可測量出垂直鋪塑不同斷面的鋪膜深度,從而對垂直鋪塑的施工質量作出整體評價。本發明可以在垂直鋪塑工程施工完畢后,無損進行探測其鋪膜深度,操作簡單,儀器簡便,測量精度高。
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“垂直鋪塑鋪膜深度的探測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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