本發明公開了一種測量光纖、光纖預制棒以及具有徑向折射率分布和非零定常透射率的物體的幾何參數及折射率分布的測量方法。它利用橫向前射光的光強分布直接對由于折射率變化引起了變化的橫向前射光光線軌跡進行多點測量,確定出軌跡函數,從而計算出折射率分布,并利用光強分布的特征點,測量幾何參數。本測量方法是一種無損檢測方法,測量直觀、精度高。
聲明:
“橫向前射光光纖幾何參數和折射率分布測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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