本發明公開了一種涂層殘余應力的測試方法,涉及殘余應力無損檢測技術領域。本發明所述測試方法包括如下步驟:(1)利用X射線衍射法測定涂層中的物相及相應的晶體結構;(2)采用掠入射法獲得衍射圖譜;(3)采用Rietevield法進行全譜擬合,通過擬合得到的峰位偏差值計算所述涂層的殘余應力。本發明所述測試方法簡單,并且可以對復雜的應力狀態進行分析,準確度較高。
聲明:
“涂層殘余應力的測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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