本發明公開了一種基于SiPLS的近紅外光譜法測定大米中水分含量的方法,包括:采用X?Y殘差分析法對異常樣本進行了剔除,運用經典Kennard?Stone法對校正集及預測集樣本進行了選取,利用二階導數對近紅外光譜進行了預處理優化,采用SiPLS法將光譜劃分為25個子區間,利用其中的第3、9、18、20號4個子區間聯合建立了大米中水分模型,校正集決定系數為0.9573,校正集均方根誤差為0.3886。利用40個驗證集樣品對定標模型進行了驗證,預測相關系數達0.9625,平均預測回收率為100.27%,說明模型具有良好的預測能力。相較于全譜建模,采用SiPLS法建立的模型不僅精簡,還提高了模型的預測精度。本發明的方法作為一種準確、無損、環保的檢測手段,能夠用于大米中水分含量的快速測定。
聲明:
“基于SiPLS的近紅外光譜法測定大米中水分含量的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)