本實用新型公開了一種三角法非接觸式光學元件厚度測量儀,包括測量儀器本體,所述的測量儀器由光源系統、測量平臺、圖像獲取及處理顯示系統組成,所述光源系統分別由LED光源和會聚透鏡組成;所述測量平臺分別由軸臺和凹型測量承座組成;凹型測量承座固定于軸臺上,軸臺是能沿A-A軸上下移動調節的一維軸臺,用于調節凹型測量承座的高度,凹型測量承座內自下而上依次放置有基準元件或待測元件;所述圖像獲取及處理顯示系統分別由鏡頭、CMOS圖像傳感器及信息處理顯示單元組成。本實用新型具有測量精度高、速度快的特點,適合快速無損檢測。
聲明:
“三角法非接觸式光學元件厚度測量儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)