本發明是關于一種基于太赫茲時域光譜測定巖石光學參數的方法及系統,所述的方法包括:對巖石基底和巖石樣品進行檢測,獲取所述的巖石基底的太赫茲脈沖時域波形和所述的巖石樣品的太赫茲脈沖時域波形;對所述的巖石基底的太赫茲脈沖時域波形和所述的巖石樣品的太赫茲脈沖時域波形進行處理,得到所述的巖石樣品的吸收譜和折射率譜數據。本發明提供的一種基于太赫茲時域光譜測定巖石光學參數的方法及系統,能夠對巖石進行快速、無損檢測,檢測方法易操作,數據處理簡單,重復性好。
聲明:
“基于太赫茲時域光譜測定巖石光學參數的方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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