本發明涉及電池材料技術領域,具體涉及一種薄膜電極材料電導率的測試方法。具體步驟為:將薄膜電極材料進行沖洗并真空干燥,獲得測試用薄膜電極材料;將所述測試用薄膜電極材料采用太赫茲時域光譜儀進行檢測,獲得所述薄膜電極材料的樣品時域脈沖信號,并在相同光譜條件下獲得背景時域脈沖信號作為參考信號;根據所述樣品時域脈沖信號和參考信號按照預定的計算方法計算獲得所述薄膜電極材料的電導率。本發明非侵入式、無損檢測方法,且操作簡單方便,便于觀察,工作效率高,為薄膜電極電導率檢測提供了一種新的方法和思路。
聲明:
“薄膜電極材料電導率的測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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