本公開提供了一種測定金屬材料內部晶粒屬性的方法,獲取基于標準試樣的金屬材料的衰減系數;對待測金屬材料進行檢測,獲取多個針對待測金屬材料的多種數據;根據檢測到的多種數據與標準試樣的金屬材料的衰減系數進行比對,完成金屬材料內部晶粒屬性的測定。該方法完成可以無損快捷地對金屬材料晶粒粗細度等級進行測定,在生產檢驗中可顯著提高現場產品檢測效率,是一種經濟適用的檢測方法,且具有易用性與適用性,且該方法簡單快捷、經濟適用、檢測效率高。本公開還提供了一種測定金屬材料內部晶粒屬性的裝置。
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“測定金屬材料內部晶粒屬性的方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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