本發明的裝置對被測器件施加連續脈沖功率,當發生反偏二次擊穿時,通過設置在基極電路中的反偏二次擊穿檢測器檢測射頻振蕩,而后經單穩、R-S觸發器進行反偏二次擊穿指示、讀數、終止測試一系列操作。與此同時,從被測器件的集電極設置一套獨立的保護電路。該電路檢測在集電極出現的任何負沿,并加以保護,由于負沿觸發的高速度可以實現無損傷測試。又由于該高速保護電路所固有的微小延遲與SB檢測器射頻檢測的脈沖形成電路的時間差,使保護與SB指示二者互不影響。
聲明:
“晶體管反偏二次擊穿測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)