本發明涉及一種X射線無損探傷檢測方法,特別是涉及一種用底片黑度值測算勻質材料厚度的方法,屬于無損檢測技術領域。第一步,對被檢測勻質材料的厚度進行預先估算,選取標準階梯試塊;第二步,對選定的標準階梯試塊進行射線照相,并用黑度計測量標準階梯試塊對應的黑度值;第三步,對第二步中用黑度計測量的射線底片的黑度值與第一步中選取的標準階梯試塊的厚度值進行擬合,得到擬合公式;第四步,用第二步的方法,對待測勻質材料實施照相,對射線底片的黑度值進行測量,將黑度值代入第三步得到的擬合公式中,即可計算出待測勻質材料的厚度值。
聲明:
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