本發明是一種基于高光譜建立水果中腐敗真菌生長曲線的方法,屬于食品質量安全快速檢測和監測的無損技術。通過高光譜成像儀,分別獲取真菌不同生長階段的高光譜圖像,分析不同類型不同階段真菌圖像及光譜之間的差別,提取相應的圖像和光譜特征參數,分別構建了三種真菌的生長模型,與傳統的微生物生長檢測手段得到的生真菌長情況相比較,相關系數在0.88-0.96。本發明為微生物及在食品中的生長檢測提供了新思路和新技術,能夠更方便快捷的建立真菌生長曲線,并能用于水果腐敗真菌病害的檢測、監測和控制。
聲明:
“基于高光譜圖像對腐敗真菌生長預測的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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