本發明涉及一種量測圖形化襯底圖形的方法,主要用于測試在平滑襯底上進行規則圖形化后圖形尺寸的量測;方法中利用掃描電子顯微鏡(SEM)作為測試工具,但測試過程沒有按照普通裂片的制樣方式進行,而是將整片無損傷地進行測試;測試中將樣品進行一定角度傾斜,量測傾斜后的成像尺寸,經過一定運算可以得到所測樣品實際圖形尺寸。本發明介紹的方法給出了SEM在高度測試中新的形式,開啟了圖形化襯底圖形尺寸的無損傷測試模式,既節約了成本又簡化了測試中制樣的流程。
聲明:
“量測圖案化襯底的量測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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