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高雙折射光纖拍長測量方法及裝置

1021   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:58:23
本發明屬于利用光電子方法測量光纖性能的技術領域。本發明是利用高雙折射光纖的法拉第效應實現對高雙折射光纖拍長測量的一種新方案,其主要優點是可不需破壞高雙折射光纖的保護層進行無損檢測、分辨率高、測量速度快,測量結果不受光纖擺放狀態影響,并適于低耗高雙折射光纖測量,可測出拍長沿光纖長度的分布。
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“高雙折射光纖拍長測量方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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