本實用新型涉及測量技術領域,具體涉及一種納米顆粒粒徑的檢測裝置。本實用新型由激光器(1)、光纖耦合器(2)、干涉儀(3)、光電倍增管(4)、光譜分析儀(5)、計算機(6)、準直聚焦透鏡組(7,8)、樣品池(9)和光纖組成,其中發光二極管(1)、光電倍增管(4)、干涉儀(3)和準直聚焦透鏡組(7,8)通過單模光纖與光纖耦合器(2)橋接;光電倍增管(4)、光譜分析儀(5)、計算機(6)通過電纜依次連接。本實用新型所述裝置結構簡單緊湊,小型實用,能有效進行高濃度樣品測量,對樣品無干擾、無損傷,能快速、準確測量納米顆粒粒徑,適合于現場或在線監測的優點。
聲明:
“納米顆粒粒徑的檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)