X射線照射下六氟化硫氣體局部放電檢測方法及其裝置,裝置包括試驗變壓器(1)、GIS試驗段(2)、高壓引線(3)、套管(4)、絕緣缺陷(5)、高頻X射線機(6)、X射線發射窗(7)、四角支架(8)、高頻X射線機控制箱(9)、校驗裝置(10)、檢測阻抗(11)、電纜(12)、采集裝置(13)、電池電纜(14)、電池組(15)、光纖(16)、光纖控制器(17)、USB線(18)和便攜脈沖電流工業電腦(19)、耦合電容(20)。本發明具有高效、無損、可視等顯著優點。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)