本發明提供了硫代巴比妥酸多晶型的太赫茲光譜檢測方法。本發明的解決了現有檢測方法中存在的樣品制備繁瑣、分析復雜、光子能量高可能導致晶型轉變的問題。本專利利用溶劑重結晶法制得硫代巴比妥酸多晶型,再利用太赫茲時域光譜技術對硫代巴比妥酸多晶型進行測量,得到它們在的太赫茲波段的光學參數。本發明用太赫茲時域光譜技術測定樣品方法簡單、快捷、無損。
聲明:
“硫代巴比妥酸多晶型的太赫茲光譜檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)