本實用新型提供一種無接觸式太陽能晶片晶體類型自動檢測系統,包括自動傳送模塊、電源模塊、圖像采集模塊、圖像處理模塊。在整個檢測過程中該系統與晶片不發生接觸,對晶片表面沒有任何傷害,在2秒內就能完成晶片定位,圖像采集,圖像分析計算準單晶晶片晶粒大小和晶界數量,按照晶粒大小和晶界數量進行晶片類別歸類等任務,具有操作簡便、無損晶片、檢測效率高等特點。
聲明:
“無接觸式太陽能晶片晶體類型自動檢測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)