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利用暗場顯微鏡同時進行指紋識別與分析物檢測的方法

1102   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:58:20
本發明涉及利用暗場顯微鏡同時進行指紋識別與分析物檢測的方法,包括如下步驟:利用納米等離子體激元材料和核酸適體制備納米等離子體激元探針;處理基底并利用該基底獲取潛指紋;將所述納米等離子體激元探針滴加于已獲取潛指紋的基底上,使得所述潛指紋與所述納米等離子體激元探針結合;利用暗場顯微鏡進行檢測。本發明提供的指紋分析方法不僅能夠對潛指紋進行成像,而且能夠同時檢測指紋中所攜帶的化學分析物。結果表明,本發明提供的是一種簡單快速的方法,可以對指紋樣品進行直接的無損分析。
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“利用暗場顯微鏡同時進行指紋識別與分析物檢測的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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