本申請提供一種基于太赫茲檢測的絕緣材料評估方法,獲取待測絕緣材料的時域光譜曲線和待測特征峰值;調取所述被檢測絕緣材料的正常時域光譜曲線圖和正常特征峰值;通過待測特征峰值與正常特征峰值之差獲得特征峰值偏離值;在所述特征峰值偏離大于正常特征峰值的百分之十時,獲取多個角度成像的靜態圖像并得到灰度值分布;隨機選取多個微小區域,以及每個所述區域的灰度平均值;計算多個灰度平均值的平均值和方差;若方差大于等于預設值時,待測絕緣材料已發生區域老化;若方差小于所述預設值時,待測絕緣材料整體老化;通過絕緣材料的太赫茲圖像和時域光譜,判定絕緣材料的老化區域,是局部還是整體老化,無需破壞材料本體的一種無損檢測方法。
聲明:
“基于太赫茲檢測的絕緣材料評估方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)