本申請提出一種基于Chirp信號的旋轉層析缺陷檢測方法和裝置,涉及無損檢測技術領域,其中,方法包括:控制磁化裝置中多對磁化線圈激勵電流,以使在被測結構件內部產生無極變頻旋轉磁場;磁傳感陣列按照等旋轉角度原則采集被測結構件表面的磁場數據,并實時傳送到數據分析模塊;數據分析模塊對各個時刻下的磁場數據進行聯合解耦,獲取被測結構件內部的層析結果。由此,由于Chirp信號在不同時刻頻率不同,因此感生渦流在各個時刻下的集膚深度不同,通過對Chirp信號頻率變化率進行控制,實現對被測結構件不同深度處缺陷的同靈敏度檢測,以及采集不同時刻下被測結構件的表面磁場信號,對特定時刻下的磁場信號進行聯合解耦,從而實現對缺陷的層析檢測。
聲明:
“基于Chirp信號的旋轉層析缺陷檢測方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)