本發明涉及一種低輻射鍍膜玻璃的光學參數檢測方法,該低輻射鍍膜玻璃為SnO2:F/SiCxOy,0<x<1,1<y<4,屬于鍍膜玻璃檢測領域。該方法是在獲得SnO2:F/SiCxOy節能鍍膜玻璃橢圓偏振光譜的基礎之上,引入五層膜層結構以及光學色散方程,通過迭代來回歸實測橢偏光譜,最終獲得SnO2:F/SiCxOy鍍膜玻璃的膜層結構及其每一層的光學參數,利用該方法實現鍍膜玻璃光學性能的在線實時監控。本發明僅采用光學測試手段來獲得準確的膜層結構及光學參數,對樣品無損傷、測量耗時少、測試方法簡便,對被測樣品表面無特殊要求,十分適合于SnO2:F/SiCxOy節能鍍膜玻璃的性能檢測。
聲明:
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