本實用新型公開了一種半導體檢測設備,包括支撐架和橫軸,所述橫軸設置在支撐架的下面,所述橫軸上設有萬向輪,所述支撐架中心處設有SQUID檢測系統,所述SQUID檢測系統包括檢測外殼、SQUID探頭和聚焦透鏡,所述SQUID探頭設置在檢測外殼下面,所述聚焦透鏡設置在SQUID探頭下面,所述檢測外殼內側頂端設有傳感器,所述檢測外殼一側設有光電管,所述檢測外殼另一側設有機械手,所述支撐架左側固定有SQUID控制器,所述SQUID檢測系統下面設有防震檢測臺,所述防震檢測臺下面設有旋轉臺,所述旋轉臺與支撐架轉動連接。該實用新型,實現了無損檢測,檢測的精度較高,具有良好的分辨率,在半導體結構分析和光電器件性能檢測等方面,具有很好的應用前景。
聲明:
“半導體檢測設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)