本發明提供一種基于脈沖渦流陣列的缺陷檢測裝置及方法,涉及無損檢測技術領域。本方法的過程如下:信號發生器產生周期性脈沖信號,經功率放大器放大后,施加到激勵線圈兩端。檢測線圈陣列單元采集被測試件上方磁場信號,輸出給信號調理單元;信號調理單元對信號進行濾波、放大后輸出給A/D轉換單元,最后,送入DSP數據處理模塊,求取缺陷的尺寸信息。本發明裝置對檢測陣列數據了進行了聚類和均值處理,有效抑制了檢測陣列線圈傾斜或提離對缺陷檢測的影響;采用了一個線圈作為激勵、多個檢測線圈組成陣列的結構,即減小了磁場的干擾,又實現了更為全面的缺陷信息檢測;將時域特征量和頻域特征量相結合,提高了缺陷檢測精度。
聲明:
“基于脈沖渦流陣列的缺陷檢測裝置及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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