本發明公開了一種窗掃描熱成像缺陷檢測和層析成像方法及系統。系統工作時,熱源和熱像儀以固定速度掃描被檢對象,熱源對被檢對象進行加熱,熱像儀記錄被檢對象表面加熱之后隨時間變化的溫度信息作為原始數據;對原始數據進行重構,獲得被檢對象每個點的溫度變化序列作為檢測信號;采用或產生特定信號作為參考信號;對檢測信號與參考信號進行時域、頻域和互相關等方法處理,提取時域特征值、頻域特征值、互相關幅值特征值和互相關相位特征值等,實現缺陷檢測和層析成像。該方法及系統可應用于航空航天、新材料、石油化工、核電、鐵路、汽車、特種設備、機械、冶金、土木建筑等領域的裝備無損檢測、材料表征評估和產品質量控制。
聲明:
“窗掃描熱成像缺陷檢測和層析成像方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)