本發明公開了一種基于低頻激勵的復合式渦流檢測探頭及檢測方法,屬于無損檢測技術領域。本申請通過在遠場渦流檢測的基礎上,向屏蔽結構內增加一個常規渦流檢測線圈,與遠場渦流共用同一個激勵線圈,既不影響遠場渦流的對深層缺陷的檢測,也可利用常規渦流檢測提升上表面缺陷的檢測精度;通過內層為銅、外層為硅鋼的雙層屏蔽罩設計,利用高電導率的銅受到激勵線圈磁場的影響,會在材料內部產生感生渦流,感生渦流的磁場會阻礙直接耦合通道磁場的傳播,而硅鋼的磁導率遠遠高于空氣與鋼鐵,因此大部分磁場能量會在硅鋼內部傳導,而非在屏蔽罩外的空氣中傳播,實現了包含鋼板表面缺陷信息和包含鋼板深層缺陷信息的能量的分離,提高了檢測精度。
聲明:
“基于低頻激勵的復合式渦流檢測探頭及檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)