合肥金星智控科技股份有限公司
宣傳

位置:中冶有色 >

有色技術頻道 >

> 無損檢測技術

> 檢測半導體晶體或外延薄膜材料極性的方法及檢測系統

檢測半導體晶體或外延薄膜材料極性的方法及檢測系統

1223   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:58:04
本發明公開了一種檢測半導體晶體或外延薄膜材料極性的方法,所述方法包括以下步驟:利用圓偏振光輻照待測的半導體晶體或外延薄膜材料,并檢測所產生的無偏壓電流的電流方向;根據所述無偏壓電流的電流方向,判斷所述待測的半導體晶體或外延薄膜材料的極性。另外本發明還公開了一種半導體晶體或外延薄膜材料極性的檢測系統。本發明的測試系統可在常溫常壓下工作,檢測精確度高、制樣簡單快捷、檢測速度快,對測試樣品具有無損性,而且對測試人員的要求很低,操作非常容易,每個樣品的測試時間僅為10分鐘左右,更為重要的是整套測試系統價格低廉,可以大大降低測試成本。
登錄解鎖全文
聲明:
“檢測半導體晶體或外延薄膜材料極性的方法及檢測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
分享 0
         
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
標簽:
無損檢測
全國熱門有色金屬技術推薦
展開更多 +

 

中冶有色技術平臺

最新更新技術

報名參會
更多+

報告下載

赤泥綜合利用研究報告2025
推廣

熱門技術
更多+

衡水宏運壓濾機有限公司
宣傳
環磨科技控股(集團)有限公司
宣傳

發布

在線客服

公眾號

電話

頂部
咨詢電話:
010-88793500-807
專利人/作者信息登記
在线精品视频播放|无码 有码 国产18p|宅男精品一区在线观看|伊人色综合久久天天人手人婷|亚洲熟肥妇女BBXX