本發明一種同時射線檢測不同厚度材料透照參數確定方法,屬于航天、航空、兵器、船舶、特種設備等的無損檢測技術領域;所要解決的技術問題是提供一種同時射線檢測不同厚度材料透照參數的確定方法,以便能夠實現不同厚度材料同時射線檢測作業,優化檢測參數,保證結果穩定;通過不同厚度材料基準透照參數選取、基準參數調整、計算實際透照參數、確定布照焦距和透照時間等方法,解決了定向X射線檢測透照參數適用性差、逐件流水作業等問題,實現了同時射線檢測不同厚度材料,提高檢測效率和結果穩定性。
聲明:
“同時射線檢測不同厚度材料透照參數確定方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)