一種半導體激光器無損波長分類篩選方法,通過電致發光初檢及工藝片整片掃描光熒光譜復檢的方法,可有效篩選不同波長范圍的半導體激光器外延片,適用范圍廣。本發明可在前道工藝完成整片激光工藝片波長篩選分類,定位精準,數據全面,速度快,大大提高后道工藝工作效率。同時本發明避免了對激光器工藝片的結構破壞,提高了外延片利用率,節約大量成本。
聲明:
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