本發明涉及平面面積測量技術領域,特別是一種使用單幅圖像,進行平面葉片面積無損測量的系統及其方法。系統包括:圖像采集單元,圖像校正單元,葉片圖像分割單元,葉片面積計算單元。方法包括:通過圖像采集單元得到附著在標定板上的平面葉片圖像;圖像校正單元根據圖像和標定板上的同名點,計算出圖像上的像素和實際物體的射影對應關系,并且對圖像進行正射校正;葉片圖像分割單元將葉片的圖像從背景中分離出來;葉片面積計算單元根據射影對應關系,計算出正射校正后的葉片圖像的面積。
聲明:
“平面葉片面積無損測量系統及其方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)