本發明公開了一種短波長特征X射線內部應力無損測試裝置,包括X射線源及其入射準直器、測角儀、試樣架、至少兩個探測器及其接收準直器組等;各探測器及其相應的接收準直器均與探測器支架固定連接,各個探測器與接收準直器一一對應,由測角儀驅動各探測器及其相應的接收準直器轉動;各探測器的接收口指向對應的接收準直器的出射口,接收準直器的接收口指向衍射儀圓圓心。在使用過程中可以調節接收準直器和探測器的位置,使多個探測器與樣品之間具有不同的角度,從而使得各個探測器可以對應樣品中不同的衍射晶面,從而實現同時對樣品中多個衍射晶面進行測試,提高測試效率。本發明還提供了一種短波長特征X射線內部應力無損測試方法,同樣具有上述有益效果。
聲明:
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